• 专为光学测试设计和优化(不考虑生化应用)，标准配置可涵盖大部分测试需求，无需额外附件。

• 极端入射角的测量，可实现0-75度（可扩展到85）透射测量和8-75度（可扩展到85）绝对反射率测量。

• 全自动化测量，改变入射角后无需重新校准基线，测量基板上同一区域的透射率和绝对镜面反射率——非常适合薄膜设计的反向分析，减少人为因素的影响。

• 涵盖市场上广测试波段，宽可涵盖185nm-5200nm。

• 绝对反射率测量，可高达99.99%。

• 厚样品透过率测试，可自动计算光线偏移量，自动控制传感器进行补偿，进行准确测量，无需其他附件。光束偏移，高达 +/- 60, 0 mm。

• 可直接进行棱镜测试，只需更换样品台。

• 改进的单色仪具有高度准直的光束，具有低杂散光，高信噪比的特点。

• 与市场上产品相比，测量速度提高数倍。

• 改变光斑尺寸，实现极端小口径样品测试。