面向高端制造前沿，立足国产元器件与关键技术，自主研发大口径双工况立式检测站，实现皮米级精度计量，为大口径超精密光学元件提供坚实“标尺”。

大口径非球面检测：检测范围覆盖平面、球面、非球面，适配航空航天、天文望远镜等多元光学元件，满足现代光学系统检测需求；

双工况立式设计：立式向上/向下双姿态快速切换，无需繁琐装夹即可完成透镜双面计量，契合规模化高效率制造场景；皮米精度计量：自研皮米级非球面光学基准，通过高稳定光路设计与算法补偿，精准捕捉光学元件面形误差，突破传统检具精度传递瓶颈，实现皮米级精度计量；自动检测降槛：集成多设备协同自动补偿功能，实现“一键式”检测，降低操作门槛，提升检测一致性与可靠性。

应用领域：超高精度透镜、球面、非球面形及曲率半径计量。